SGWX-4B顯微熔點(diǎn)儀

SGWX-4B顯微熔點(diǎn)儀

測量范圍：室溫~320 ℃
測量方法：目視
測量模式：毛細(xì)管法、熱臺(tái)法
最小示值：0.1℃

產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品簡介

測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、燃料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定。儀器采用顯微鏡觀察方法，既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測定。

SGW? X-4A、SGW? X-4B帶有防風(fēng)罩，減少了環(huán)境對測試結(jié)果的影響。

技術(shù)參數(shù)

儀器型號

SGW? X-4B

測量范圍

室溫~320 ℃

測量方法

目視

測量模式

毛細(xì)管法、熱臺(tái)法

最小示值

 0.1℃

重復(fù)性

≤200℃±1℃，＞200℃±2℃

觀察方式

雙目體視顯微鏡

放大鏡倍數(shù)

40×-100×變倍

電源

220V±22V，50Hz±1Hz

儀器尺寸

269×160×435mm

儀器凈重

4kg

熔點(diǎn)儀，顯微熱分析儀易耗品選購

毛細(xì)管：90mm適用于WRS系列儀器、120mm適用于WRR系列儀器

標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)：萘、乙二酸、蒽醌等

載玻片/蓋波片：適用儀器WRX-2S、SGW? X-4系列

代辦服務(wù)：提供儀器校驗(yàn)、3Q認(rèn)證